Страница 160 / 239

[таблица/опись, не транскрибируется] В смывах с объектов п.п. 1-3 в водном контроле следовых количеств неорганических солей-окислителей (аммиачной, калийной, натриевой селитр и т.п.) на уровне 10⁻⁴ г не обнаружено. Эксперт Е.Ю. Горшков К.Н. Стовбур 2.4. Исследования фильтров (провели эксперты Стовбур К.Н. и Суворова И.А.) Исследования фильтров, оставленных после пробоподготовки смывов с объектов п.п. 1-3 и контролей, с целью выявления на них частиц мелкодисперсных металлов, проводились комплексом методов оптической микроскопии (ОМ) и сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) с рентгеноспектральным микроанализом (РСМА). Исследования проводились в соответствии с «Криминалистической методикой обнаружения частиц в составе наложений на поверхности объектов частиц, характерных для продуктов взрыва алюминийсодержащих взрывчатых веществ» (М., Институт криминалистики ЦСТ ФСБ России, 2008 г., инв. № 5/849, 23 с., далее – методика № 5/849 и «Методических рекомендаций для проведения комплексных физико-химических исследований конденсированных продуктов взрыва пиротехнических составов» (М., Институт криминалистики ЦСТ ФСБ России, 2014 г., инв. № 5/1249, 18 с., далее – методические рекомендации № 5/1249). В соответствии с методикой № 5/849 и методическими рекомендациями № 5/1249 в качестве горючего во ВВ и пиротехнических составах (ПТС) обычно используется мелкодисперсный металлический алюминий, магний и их сплавы. При горении этого мелкодисперсного металлического горючего в процессе взрыва образуются продукты горения, состоящие в большей части из шарообразных частиц, состоящих из «чистых» оксидов алюминия и магния. Метод ОМ использовался для предварительного визуального обнаружения частиц мелкодисперсного алюминия (пудры) в составе веществ, образующих наслоения на фильтрах. Исследования проводились на оптическом микроскопе «MZ12.5» фирмы «Leica» при увеличениях до 100 крат. Исследования внешнего вида и элементного состава микрочастиц проводились с помощью методов СЭМ и РСМА на сканирующем электронном микроскопе «JSM-6610» фирмы «Jeol» (Япония) с энергодисперсионным анализатором «INCA X-Max» фирмы «Oxford Instruments» (Великобритания). Используемое увеличение: от 500 крат до 5000 крат.
Поделиться: